next up previous contents
Next: Quellenpositionierungsvorrichtung Up: Die Kristalltestapparatur Previous: Der Kristalltisch

Temperaturmesssystem

Nachdem aufgezeigt wurde, wie man den Kristall prinzipiell abkühlt, wird nun erklärt, wie eine konkrete Temperatur erreicht und gemessen wird, wie es die Abbildung 10 illustriert.

  figure216
Abbildung 10: Prinzip der Temperaturmessung und Temperaturerzeugung im Kristall. Am Kupfertisch und Kristall wird die Temperatur mit einem Temperaturfühler gemessen und über verschiedene elektronische Systeme im PC registriert. Ein Laborgerät, das wiederum durch den PC angesteuert werden kann, liefert den Heizstrom für die Hochlastdrahtwiderstände -- die Heizungen -- welche den Kupfertisch und somit den Kristall erwärmen.

Man darf davon ausgehen, dass das Kühlsystem den Kupfertisch mit konstanter, ununterbrochender und ausreichender Kühlleistung abkühlt. Am Kristall wird ein Messwiderstand Pt 100gif angeklebt und an das Voltmetergif angeschlossen. Das Leiterpaar vom Messwiderstand zum Messgerät besitzt einen inneren seinerseits temperaturabhängigen Widerstand, der die Messung verfälscht, da der innere Widerstand des Leitersystems zum Messwiderstand dazu addiert wird. Man kann diesen

  figure3059
Abbildung 11: Prinzip der Vierpunktmessung schematisch dargestellt.

Einfluss beinahe vollständig ausschalten. Für präzise Temperaturbestimmmungen verwendet man deshalb das Schema der Vierpunktmessung, welches in der Abbildung 11 dargestellt ist. Das Voltmeter liefert über ein zusätzliches Leiterpaar einen sehr präzisen Strom I=1 mA. Die Spannungsquelle ist intern hochohmig abgeschlossen Ri106 Ohm und macht den Strom unempfindlich gegnüber den temperaturbedingten Widerstandsschwankungen des Leiters. Also fliesst über den Messwiderstad Pt 100 ein konstanter Strom von der relativen Genauigkeit 10-4. Mit dem anderen Leiterpaar wird ausschliesslich der Spannungsabfall unmittelbar über dem Messwiderstand Pt 100 gemessen und am Voltmeter als Widerstandswert durch das ohmsche Gesetz umgewandelt angezeigt. Diese Spannungsmessung ist sehr präzise, da der Messvorgang intern mit 109 Ohm abgeschlossen ist. Der temperaturabhängige innere Widerstand der Leiterpaare übt somit keinen Einfluss auf die Spannungsmessung am Pt 100 aus. Eine genaue Temperaturmessung ist nun möglich.
Über die serielle Schnittstelle RS232 lässt sich das Voltmeter vom PC aus steuern. Ich habe zu diesem Zweck ein LabView-Programm geschrieben, welches die Temperaturmessung steuert, indem sich jede Sekunde folgende Sequenz widerholt.

Das Pt 100 wird am seitlichen Ende des Kristalls befestigt, möglichst weit weg von irgend einer Kupferplatte. Zusätzlich wird am Kupfertisch ein Temperaturfühler angebracht. Da die Temperaturausbreitung im Kristall, der durch Wärmeübertragung das thermodynamische Gleichgewicht anstrebt, endlich ist und ein Temperaturgradient vorhanden ist, kann mit dieser Anordnung von Temperaturfühlern grob abgeschätzt werden, ob die Temperatur im Kristall homogen verteilt ist.
Der Kristall soll nun auf eine stabile Temperatur, beispielsweise TKrist.=120 K, gebracht und dort gehalten werden. Das LAbView-Programm gibt dem Digital-Analog-Convertergif den Befehl, eine Steuerspannung 0<U<10 V zuerzeugen, die wiederum das angesteuerte Laborgerätgif dazu veranlasst, eine elektrische Leistung von 0<P<90 Watt zu erzeugen. Diese Leistung wird an die Heizungen am Kupfertisch abgegeben. Ich kann also vom LabView aus die Heizung exakt betätigen. Um nun eine geziehlte Temperatur im Kristall zu erreichen, mussen die Heizleistung und die Kühlleistung des Kupfertisches einander entsprechen. Da die Wärme von den Heizungen nicht am selben Ort des Kupfertisches zugeführt wird, wie die Wärme danach an den Kühlkörper abgegeben wird, herrscht im Innern des Kupfertisches ein andauernder Wärmefluss. Die Abmessungen und materialspezifischen Eigenschaften des Kupfertisches bewirken auf seiner Oberseite, dort, wo der Szintillator liegt, eine genügend homogene Temperaturverteilung. Jetzt haben wir in der Tat eine konstante Temperatur im Kristall.


next up previous contents
Next: Quellenpositionierungsvorrichtung Up: Die Kristalltestapparatur Previous: Der Kristalltisch

Peter Niederberger
Thu Aug 12 09:29:27 CEST 1999