Das festkörperphysikalische Verhalten und die Szintillationseigenschaften des reinen CsI ist nicht im Detail geklärt (Ref. [9]). Man weiss aber, dass unterschiedliche physikalische Prozesse für die Lichtproduktion des Szintillators verantwortlich sind. Diese Prozesse laufen unterscheidbar rasch ab und weisen eine Temperaturabhängigkeit auf. An einen solchen Prozess sind die messbare Anstiegszeite und Abklingzeit -- man spricht auch vom Abklingverhalten des Szintillators -- geknüpft. Die Abklingzeit verhält sich gemäss dem exponentiellen Zerfallsgesetz (8), welches als Fitfunktion verwendet wurde.
Der Parameter ist ein Formfaktor und hat keinerlei Relevanz. Will man n Abklingzeiten gleichzeitig messen, summiert man über n Funktionen (8). Die Abbildung 26 zeigt ein Beispiel für eine und zwei Abklingzeiten.
Abbildung 26: Die Abklingzeit von ist gestrichelt eingezeichnet. Man erkennt
die deutliche Verbesserung für eine Fitfunktion mit zwei Abklingzeiten
und . Es ist zusätzlich der prozentuale Flächenanteil
der integrierten Funktion für die beiden Abklingzeiten angegeben. Das
entspricht dem prozentualen Lichtanteil.
Die Abklingzeiten der Kristalle SPL und SPR wurden mit pm5 gemessen. Die analogen Pulse wurden auf dem Kathodenstrahloszillograph festgehalten und als Datenfile in den PC eingelesen. Die Abbildungen 27 - 30 illustrieren die Ergebnisse. Da die beiden Kristalle von verschiedenen Herstellern stammen, erwartet man auch unterschiedliche Reinheiten, an welche die Abklingzeit geknüpft ist.
Abbildung: Temperaturabhängigkeit der Abklingzeiten. Als Fitfunktion wurden
zwei Funktionen 8 mit den beiden Zeitkonstanten
und sumiert. Die gestrichelte Kurve entspricht
der Fitfunktion mit nur einer Zeitkonstante.
Abbildung: Unterschiedliche Abklingzeiten von zwei verschiedenen
CsI-Szintillatoren bei 120 K. Die Fitfunktion (8) ist
gestrichelt eingezeichnet.
Abbildung 30: Prozentualer Lichtanteil von .
Abbildung 29: Temperaturabhängigkeit von .